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汽車零部件檢驗檢測

日本電子JSM-7900F場發(fā)射掃描電鏡

主要用于金屬材料、非金屬材料和納米材料等多種材料的電子顯微學研究,在高真空條件下對樣品進行直接的超高分辨顯微形貌觀察、對微區(qū)元素進行定性定量分析。可滿足汽車材料、生命科學和半導體等多種領域的檢測需求。

主要技術參數(shù):

電子像分辨率≤0.6nm (15kV),放大倍率100萬倍,能譜附件分辨率Mn和Ka優(yōu)于127eV,元素分析范圍 Be4~Cf98。